光学元件表面缺陷系统克服了光学元件因其光学特性导致成像效果不良等困难，运用数字成像技术、多自由度轴系运动控制和AI深度学习等技术定向解决了普通型、高透射型和高反射型光元件表面微小缺陷识别难题。Defect Ai可以对多种面型和尺寸的光学元件进行全自动在线/离线快速检测，具备快速、高效和精准量化等特点，广泛应用于光学制造、3C、汽车等领域。